EnSpectr L730®発光分光計アナライザは、半導体ヘテロ構造の光学特性を計測する高性能かつ携帯性の高いルミネッセンス分析装置として開発されました。

EnSpectr L405®は室温での操作環境ながら低ノイズの３６４８画素リニアアレイCCD検出器を用いて最先端の技術によりレイリー光を抑制しています。また、プログラム可能なオンボードマイクロコントローラを搭載し高いフレキシビリティで分光器やアクセサリを制御出来ます。GaAsとAIGaAの発光スペクトル範囲において可能な限り高い性能を発揮する光学系がビルトインされています。
多層構造、タイプ及び不純物量によって数秒以内に正確な定量的測定、電子密度及び分布を計測可能です。また磁場発光やエレクトロルミネセンスの分野での複雑な科学的研究に有用出来ます。
また低温発光測定はSMAコネクタにより容易な光ファイバーへの接続性を実現しています。データはUSBまたはBluetoothを介して直感的な制御が可能です。