| ■導入をご検討されている企業･研究機関のみなさまへ |
| これらの商品及び関連商品の導入ご希望の方は、導入実績豊富な(株)ルシールまでご連絡下さい。御社・貴機関に最適な導入プランを実績豊富な専門スタッフによりご提案させて頂きます。 |
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| ■MTE Camera heads (NTE) |
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| ■PIXIS-XO Camera heads |
 <30eVから10keVまでの軟Ｘ線計測用ＣＣＤです。背面照射型のＣＣＤと特殊コーティングにより高感度測定が可能です。Ｘ線のホトンカウンティング領域のような高感度計測まで可能です。 |
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| ■PIXIS-XF camera head |
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| ■Quad-RO Camera heads |
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| ■Nano-XF Camera heads |
■Nano-XF Camera heads
リンクが貼られているものはメーカーの製品紹介ページにリンクします。 |
| Nano-XF: 11000-DP |
Nano-XF: 11000-WF |
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| ■PI-SX Camera heads (NTE) |
 <30eVから10keVまでの軟Ｘ線計測用ＣＣＤです。背面照射型のＣＣＤと特殊コーティングにより高感度測定が可能です。Ｘ線のホトンカウンティング領域のような高感度計測まで可能です。 |
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| ■PI-SX Camera heads (LN) |
| <30eVから10keVまでの軟Ｘ線計測用ＣＣＤです。背面照射型のＣＣＤと特殊コーティングにより高感度測定が可能です。Ｘ線のホトンカウンティング領域のような高感度計測まで可能です。 |
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| ■PI-LCX Camera heads (NTE) |
 <700eVから25keVまでのＸ線計測用ＣＣＤです。表面照射型ディープディプレションＣＣＤとＢｅ窓の組み合わせにより低エネルギーＸ線ノイズを除去した高感度測定が可能です。Ｘ線のホトンカウンティング領域のような高感度計測まで可能です。 |
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| ■PI-SCX Camera heads (NTE) |
 <3.5ｋeVから150keVまでの硬Ｘ線計測用ＣＣＤです。 シンチレータ+ファイバー+ＣＣＤの組み合わせにより効率的な高感度測定が可能です。 |
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